CN
霍爾效應測試系統
用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數等重要參數，而這些參數是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的，因此霍爾效應測試系統是理解和研究半導體器件和半導體材料電學特性必備的工具。實驗結果由軟件自動計算得到，可同時得到體載流子濃度(Bulk Carrier Concentration)、表面載流子濃度 (Sheet Carrier Concentration)、遷移率 (Mobility)、電阻率 (Resistivity)、 霍爾系數 (Hall Coefficient)、磁致電阻等等。
霍爾效應測試系統參數
CH-30
CH-50
CH-60
CH-70
CH-80
CH-100低溫
CH-100高低溫
CH-100高溫
CH-200高低溫
CH-300
CH-300A電磁型
CH-500H
CH-500高低溫
可測試樣品
